P. Osiceanu

"Metode moderne de investigare a suprafetelor, interfetelor si straturilor subtiri: XPS(ESCA) - AUGER"

Carte in format electronic distribuita GRATUIT

 Ce este?

 Cum se obtine?

 Cui se adreseaza?

 Ce se urmareste?

 CV – ul autorului

 Cuprinsul cartii

 Scurta prezentare

 Download

 

Ce este?

Cele doua metode fac parte din familia Spectroscopiei de electroni si pot sa detecteze, teoretic, toate elementele din Sistemul Periodic si toti compusii chimici ai acestora pe suprafete (primele straturi atomice), la interfete si in straturi subtiri (ordinul micronilor).

 

Back to top

 

 

Cum se obtine?

  1. exista pe CD-ROM putind fi trimisa la cerere.
  2. va putea fi descarcata de pe pagina web a autorului

Informatii la posic@icf.ro sau posiceanu@yahoo.com

 

Back to top

 

Cui se adreseaza?

Cartea se adreseazã cercetãtorilor (fizicieni, chimisti, biologi), inginerilor si studentilor ( incluzind "non - expert readers") din domenii foarte variate în care cele douã tipuri de spectroscopii au aplicatii: microelectronica, coroziunea, cataliza, metalurgia, geologia, biomateriale, polimeri, materiale semiconductoare, supraconductori, materiale de implant, materiale compozite, materiale ceramice, industria aeronauticã, chimia analiticã, sinteza si procesarea materialelor avansate noi (nanomateriale, filme ultra - subtiri, biomateriale cu activitate cataliticã), etc. Pentru acest spectru larg de potentiali utilizatori este suficientã, ca punct de plecare, pregãtirea la ni